爱德万获美量测期刊评选为2007年测试类最佳设备
| 日期 |
（2007年8月） |
| 内容 |
半导体测试设备商爱德万测试（Advantest）公司，日前再度获得美国量测期刊Test & Measurement World举办的Best in Test奖项。爱德万在去年底推出的T2000 16ch Base Band Waveform Generator Digitizer Module（简称BBWGD Module），被编辑委员评选为2007年测试类最佳设备（Best in Test）。
自1991年以来，Test & Measurement World的编辑每年选出测量产业中最佳的测试产品，今年Best in Test竞赛的获提名者，都是由厂商和产品使用者推荐于2005年11月1日至2006年10月31日之间上市的产品。
T2000 BBWGD Module以高整合测试平台开发，大大降低了成本，同时为消费者提供准确性、灵活性和高性能。此模块拥有16个channels，可在单一板子上满足混合信号测试的需求，例如直流、音频、视频、基带及高频率。
如此高度的测试能力，提供业界以最少的成本，得到市场上最高性能的混合信号测试方案；此外，其多样化的功能，可使半导体厂商利用较少的仪器，用单一元件简化作业流程，进而达到更高的产能利用率。
爱德万表示，T2000 BBWGD Module的研发，进一步强化T2000测试系统的功能来满足SoC客户测试需求。T2000测试系统的开放架构（Open-Architecture）为业界唯一符合半导体测试联盟（STC；Semiconductor Test Consortium）之OPENSTAR标准的开放式规格测试平台。
|
| |
--中国电子仪器行业协会推荐制作-- |
| |
